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显微镜熔点仪X4

显微镜熔点仪X4产品描述

显微镜熔点仪X4仪器简介:

物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中,熔点测定是辨认该物质本性的基本手段,也是纯度测定的重要方法之一。目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段。

X4显微镜熔点仪

本仪器可用载玻片方法测定物质的熔点、形变、色变等;也可用药典规定的毛细管方法测其熔点,尤其对深色样品,如医药中间体、颜料、橡胶促进剂等的熔点,并能自始自终观察到其熔化的全过程。

显微镜熔点仪X4主要技术参数及配置:

1.放大倍数:20X-40X

2.视场直径:10mm-5mm

3.样品量<1mg/次

4.工作距离105mm

5.测量范围:测量范围室温-320℃

6.测量精密度:室温∽200℃的误差±1℃

200℃∽320℃的误差±2℃

7.电源/功率:220V50HZ/80W

8.配置:控制箱/加热测温台/温度传感器/载玻片/换档体式显微镜/隔热玻璃/散热器/镊子

▲显微镜熔点仪X4仪器结构原理:

本仪器显微镜、加热台为分体结构,通过简单插入式专用热传感器相联接,装配简单,使用方便,显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。加热台用电热丝加热,并带有专用散热器,可快速降温。可用于载波片法测量,也可用毛细管测量熔点。

▲显微镜熔点仪X4操作方法:

1.新购仪器,电源接通,开关打到加热位置,从显微镜中观察热台中心光孔是否处于视场中,若左右偏,可左右调节显微镜来解决。前后不居中,可以松动热台两旁的两只螺钉,注意不要那下来,只要松动就可以了,然后前后推动热台上下居中即可,锁紧两只螺钉。在做推动热台时,为了防止热台烫伤手指,把波段开关和电位器扳到编号最小位置,即逆时针旋到底。

2.进行升温速率调整,这可用秒表式手表来调整。再秒表某一值时,记录下这时的温度值,然后,秒表转一圈(一分钟)时在记录下温度值。这样连续记录下来,直到你所要求测量的熔点值时,其升温速率为1℃/分。太快或太慢可通过粗调和微调旋钮来调节。注意即使粗调和微调旋钮不动,但随着温度的升高,其升温速率会变慢。

3.测温仪的传感器上,把其插入热台孔到底即可,若其位置不对,将影响测量准确度。

4.要得到准确的熔点值,先用熔点标准物质进行测量标定。求出修正值。(修正值=标准值-所测熔点值),作为测量时的修正依据。注意:标准样品的熔点值应和你所要测量的样品熔点值越接近越好。这时,(样品的熔点值=该样品实测值+修正值)。

5.对待测样品要进行干燥处理,或放在干燥缸内进行干燥,粉末要进行研细。

6.当采用载——该玻片测量时,建议该盖玻片(薄的一块)放在热台上,放上药粉,再放上载波片测量。

7.在数字温度显示最小一位(如8或7之间跳动时)应读为8.5℃。

8.在重复测量时,开关处于中间关的状态,这时加热停止。自然冷却到10以下时,放入样品,开关打到加热时,即可进行重复测量。

9.测试完毕,应切断电源,当热台冷却到室温时,方可将仪器装入包箱内。

10.建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值,在第一次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号,则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。并请注意(1)室温的影响;在同样波段开关和电位器的编号下,室温越低,升温速率越慢。(2)电子元件的影响:电子元件的老化,升温速率一定时,其电位器的编号会有所变化,只要进行微调即可。编号越大,升温速率越快。

▲显微镜熔点仪X4主要特点:

1.本仪器使用毛细管法进行测量。

2.根据特殊要求,本仪器也可用载波片——载波片法进行测量。

3.本仪器采用LED数字显示熔点温度值。

4.本仪器结构简单可靠,使用方便。

5.升温速率连续可调。

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